Memory Testing

Only available on StudyMode
  • Download(s) : 75
  • Published : March 29, 2013
Open Document
Text Preview
Memory
 TESTING
 
 
Vannapha Phommathansy Yi Lan Suhas Shanker Prodduturi Prashant Tripathi Balaji Panda

Agenda
 
1.  Brief
 overview
 of
 Memory
  2.  Fault
 type
 ,
 Fault
 modeling
 

3.  5.  6.  7. 

Discuss
 FuncEonal
 fault
 and
 Reduce
 FF
 
  Coupling
 fault
  Address
 decoder
 fault
  March
 test
 Algorithm
 

8.
 Conclusion
 
  9.
 Q&A
 

 
 
 
 
 
 

Overview
 of
 Memory
 
 
ü Memory
 is
 the
 most
 dense
 physical
  structure
 
  ü Considering
 the
 increase
 density,
 memory
  arrays
 are
 more
 sensiEve
 to
 defects
 
 

 
DRAM
  FLASH
 
Semiconductor
  memory
 

SRAM
 

ROM
 

CDRAM
 

 
 
 
 
 
 

Test
 Eme
 in
 Sec
 VS
 size
 n
 bit
 
 

Fault
 Types
 
 
1.  Permanent:
 can’t
 be
  model
 ,
 system
 is
 broken
  and
 fault
 exist
  indefinitely
  2.  Transient:
 non
  permanent
 cause
 by
  environmental
 condiEon
  can
 be
 fix
  3.  Intermi\ent:
 caused
 by
  non
 environmental
  condiEon,
 occur
  randomly.
 

Fault
 Modeling
 
 
Ø Behavior
  Ø FuncEonal
 
  Ø Logic
 Gate
  Ø Electrical
 
  Ø Geometrical
 

 

² 
 Simplified
  ²  Reduce
 funcEonal
 test
 
  ²  Subset
 funcEonal
 test
 

FuncEonal
 Memory
 Model
 

Reduce
 funcEonal
 fault
 
 
SAF
 –
 Stuck
 at
 fault
  TF
 –
 TransiEon
 fault
  CF
 -­‐
 coupling
 Fault
  Address
 Decoder
 Fault
 
1.  CF
 Inversion
  2.  CF
 Idempotent
  3.  Bridging
 Fault
  4.  Dynamic
 fault
  5.  State
 Coupling
 
  6.  NPSF
  -­‐
  Neighbor
  pa\ern
  sensiEve
  fault
 

Reduce
 funcEonal
 fault
 modeling
 
•  SAF
 :
 
 the
 logic
 value
 of
 a
 cell
 or
 line
 is
 always
 0
 (SA0)
  or
 always
 1
 (SA1).
 
  •  TF:
 is
 a
 special
 case
 of
 the
 SAF,
 in
 which
 a
 cell
 fails
 to
  make
 a
 (up)
 transiEon
 or
 a
 (down)
 transiEon
 when
 it
  is
 wri\en.
  •  CF:
 a
 transiEon
 in
 memory
 bit
 j
 causes
 an
 unwanted
  change
 in
 memory
 bit
 i.
 
  •  NPSF:
 the
 content
 of
 cell
 j
 changes
 and
 it
 is
 influenced
  by
 the
 contents
 of
 all
 other
 memory
 cells
  •  ADF:
 The
 fault
 that
 affect
 the
 decoder
 funcEon
 
 

Stuck
 at
 fault
Nota,on:
 
 
 
  The
 way
 to
 detect
 and
 locate:
 From
 each
 cell,
 a
 0
 and
 a
 1
  must
 be
 read.
 

Transi,on
 Fault
Nota,on:
tracking img